Produktneuheit 14. April 2026

TopMap Micro.View®+ ist ein Oberflächenprofiler mit Regelkreisprinzip für unübertroffener Wiederholgenauigkeit. Dieses modulare 3D-Messgerät erlaubt anwendungsspezifische Konfigurationen, bis zu Probenhöhen von 370 mm. Micro.View®+ liefert präzise 3D-Topografiedaten für die Analyse der Rauheit, von Texturen, Mikrostrukturen oder MEMS aufgelöst im Sub-nm-Bereich. Der Phase-Shifing Modus liefert gestochen scharfe Visualisierungen, insbesondere von glatten Oberflächen. Kombinieren Sie 3D-Höhendaten mit dem Color View für verbesserte Dokumentationen und Visualisierungen.

Der motorisierte Revolver bietet einen automatisierten Wechsel zwischen bis zu 5 Objektiven. Das speziell entwickelten TopMap 0,6x-Objektiv erweitert Ihre Messmöglichkeiten um hochauflösenden Formmessungen. Der innovative Focus Finder und Focus Tracker sorgen dafür, dass die Pürflinge unter allen Umständen im Fokus bleiben. Die vollmotorisierten Positioniertische in Kombination mit dem True Stichting Modus automatisieren bequem die Messdurchläufe selbst übergroßer Proben. Die Compact Version weist minimalen Platzbedarf auf, ohne aber Abstriche an der Messperformance zu machen.